TM510FNplus Coating dikte gauge
● 2 Meetmodi: trochgeand / inkeld
● 2 Ofslutmodi: hantlieding / automatysk
● Breed mjitberik mei 5 probes beskikber (folgjende side)
● Direkte testmodus en blokkearje statistykmodus (APPL / BATCH)
● Kin ferbining meitsje mei printer nei statistyske wearden
● Dataview om te ferbinen mei PC mei USB 2.0-poarte
● 500 datas kinne wurde opslein
Wichtigste skaaimerken
Kin ferskate probe (F400, F1, F1 / 90 °, F10, N1, N400, ensfh.) Mjitting brûke;
Trije kalibraasjemethoden: ien punt kalibraasje, twa punten kalibraasje, de basis kalibraasje;
Resolúsje werjaan: 0.1 um (mjitberik fan minder dan 100 um)
1μ m (berik grutter dan 100 um)
Hawwe fiif statistiken, gegevensopslach 500
D'r binne twa wurkwizen: direkte manieren en middel fan groep
D'r binne twa mjittingen: trochgeande mjitting en ien mjitting
D'r binne twa ôfsluting: manuele en automatyske ôfsluting
Kin ynsteld wurde: De maat fan 'e mjitwearde kin automatysk alarm wêze en in oantal mjittingen beskikber op' e histogramwearde-analyse;
Wiske funksjes: de bruto flater en flaterynstellings kinne wurde wiske;
Ofdrukke: Ofmjitting foar ôfdruk, statistyk, meters, histogram
In muzyktoan yn 'e operaasje útfierd op elts momint tips
In spesjale funksje direkte spanning ûnder spanning
In flaterfunksje
En printers, ferbining mei kompjûterkommunikaasje (bestjoeringsomjouwing foar kommunikaasjesoftware foar it bestjoeringssysteem Window).
Technyske spesifikaasjes:
| Mjitbereik
|
0-1250µ mei standert sonde F1.N1 (maksimum 10.000mm) |
| Sondes beskikber
|
5 probes beskikber foar F (ferro: op stiel / izer) en N (non-ferro metalen) |
| Tolerânsje
|
F1: ± (1 µ + 3% H) N1. ± (1,5 µ + 3% H) H: werklike dikte hifke |
| Resolúsje | Alfanumeryke mei 4 grutte sifers |
| Operaasjetaal | Ingelsk |
| Noarmen | DIN, ISO, ASTM, BS |
| Min. mjitgebiet | F1: (standert sonde) |
| Min. krommingsradius | konveks: 3mm, konkaaf: 50mm |
| Min. substraat dikte |
type F: 0,5 mm, type N: 50 mm |
| Kalibraasje | Nul- en foliekalibraasje |
| Statistyk
|
Oantal mjittingen, gemiddelde, standertdeviaasje, maksimum en minimum fan 3000readings |
| Data ûnthâld | 500 mjitgegevens |
| Limits | Ynstelber mei akoestysk alarm |
| Ynterface | USB 2.0 |
| Bedriuwstemperatuer | 0-40 ℃ |
| streamtafier | AA maat 1.5V |
| Ofmjittings | 125 * 67 * 31mm (haad ienheid) |
| Gewicht | 345.g |
Standert levering
| · Haadienheid | 1 |
| · Sonde F1 as N1 | 1 |
| · Kalibraasje folies | 5 |
| · Gebrûksoanwizing | 1 |
| · Cetificate | 1 |
| · Garânsjebewiis | 1 |
| · Draachkoffer | 1 |
| Kommunikaasje kabel | 1 |
| PC software Dataview | 1 |
Opsjonele aksessoires
● 5 probes foar ferskate applikaasjes
● Kalibraasje folies yn ferskate dikte
Type F sonde:
| Probe |
F400 |
F5 |
F1 |
F1 / 90 ° |
F10 |
||
| Principle mjitte | Magnetyske metoade | ||||||
| Mjitbereik (mm) |
0～400um |
0～1250 um |
0～10000 |
||||
| Min resolúsje (mm) |
0.1 |
0.1 |
10 |
||||
| Tolerânsje | Ienpunts kalibraasje (mm) |
± (2% H + 0,7) |
± (2% H + 1) |
± (2% H + 10) |
|||
| Twa-punt kalibraasje (mm) | ± (1% H + 0,7) |
± ((1% H + 1) |
± (1% H + 10) |
||||
| Minimale kromtestraal (konveks) (mm) |
1 |
1.5 |
1.5 |
flet |
10 |
||
| Minimaal mjitgebiet (mm) |
F3 |
|
F7 |
F7 |
F40 |
||
| Minimale dikte fan basismateriaal (mm) |
0.2 |
|
0.5 |
0.5 |
2 |
||
Type N sonde
| Probe | N400 |
N1 |
CN02 |
|
| Principle mjitte |
Eddy hjoeddeistige metoade |
|||
| Mjitbereik (mm) |
0～400 |
0～1250 |
10～200 |
|
| Min resolúsje (mm) |
0.1 |
0.1 |
1 |
|
| Tolerânsje | Ienpunts kalibraasje (mm) |
± (2% H + 0,7) |
± (2% H + 1,5) |
± (2% H + 1) |
| Twa-punt kalibraasje (mm) | ± (1% H + 0,7) | ±（1% H + 1,5） |
——– |
|
| Minimale kromtestraal (konveks) (mm) |
1.5 |
3 |
flet |
|
| Minimaal mjitgebiet (mm) |
F4 |
F5 |
F7 |
|
| Minimale dikte fan basismateriaal (mm) |
0.3 |
0.3 |
0 |
|
